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中国
Women working in lab wearing safety equipment

新兴钴金属研磨液

富士胶片电子材料有限公司的钴CMP 研磨液设计用于抛光钴和其它阻挡层金属,并在高级钴互连抛光工艺中对电路中的多种薄膜层进行平面化处理。

  • 对敏感的钴金属具有出色的腐蚀保护
  • 与广泛的集成方案兼容,包括多种电介质、蚀刻硬掩模和 ARC 层
  • 可调的选择性,以满足定制的薄膜堆叠和最终精加工目标
  • 成本低廉——浓缩配方可在使用点提供更低的成本

产品概要

产品足以满足广泛的工艺和技术要求。

可用的钴CMP浆料

  • MSL5100C
    • 用于步骤1,用于去除大马士革结构上的大量的Co金属
    • 高浓缩液,使用成本低
    • 蚀剂系统,对钴金属提供优异的腐蚀保护
    • 平坦化效率高
    • 对 Ti 和 TiN 的选择性可调
  • MSL5200C
    • 用于步骤2,用于大马士革内部的Co金属和绝缘层材料的最终抛光
    • 低成本的浓缩配方
    • 钴去除率可调,不受其他薄膜影响
    • 出色的表面光洁度,出色的钴金属保护

可用的钌CMP浆料

  • MSL5500C
    • 用于去除钌金属的研磨液
    • 低成本的浓缩配方
    • 不同的缓蚀剂系统为钌金属提供出色的腐蚀保护
    • 平坦化效率高
    • 对介质薄膜具有高选择性

可用的Mo CMP 浆料

  • MSL5600C
    • 用于去除大马士革钼金属的研磨液产品
    • 低成本的浓缩配方
    • 不同的缓蚀剂系统为钌金属提供出色的腐蚀保护
    • 平坦化效率高

可用的 W CMP 浆料

  • MSL3100C
    • 钨(W)研磨液,对电介质有高选择比
    • 对氮化硅、氧化硅、SiGe和多晶硅薄膜具有良好的阻隔性,适用于电介质应用
    • 非选择性应用中,钨基和硅基电介质的可调速率和选择性
    • 基于高纯度胶体二氧化硅的高度可稀释配方,可实现低缺陷率
  • MSL3200C
    • 钨(W)浆料平台,用于W金属和电介质特征的最终抛光
    • 低成本的浓缩配方
    • 可调控的 W 去除率,不受其他薄膜影响
    • 出色的表面光洁度,具有出色的W金属保护