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Metal Slurry in a beaker

化学机械研磨后清洗剂

富士胶片电子材料有限公司生产的化学机械研磨后清洗剂旨在清洁颗粒、杂质金属和有机残留物,同时保护金属表面。
产品可满足多类工艺和技术要求。

  • 高效去除颗粒
  • 优异的有机物清洁性
  • 对敏感的金属部件具有出色的防腐蚀保护
  • 成本低廉——浓缩清洁剂可在用户端提供更低的使用成本
产品阵容
  • CLEAN-100
    • 工业标准铜(Cu)化学机械抛光(pCMP)清洗剂
    • 酸性pH平台
    • 低铜腐蚀速率(Cu SER)
    • 对颗粒和有机残留物具有良好的清洁能力
  • WCP-200
    • 工业标准钨(W)化学机械抛光(pCMP)清洗剂
    • 中性pH平台
    • 低钨腐蚀速率(W SER)
    • 对颗粒和有机残留物具有良好的清洁能力
  • FCN100XC
    • 专为钨(W)、钼(Mo)及介电层化学机械抛光清洗设计
    • 酸性pH平台(FCN1003C)/中性pH平台(FCN1006C),提供更好的金属腐蚀保护
    • 对氧化层(Ox)、氮化硅(SiN)和多晶硅(poly-Si)上的颗粒及有机残留物具有更佳的清洗效果
    • 作为抛光垫缓冲化学品和pCMP的清洗配套方案
  • FCN300XC
    • 设计作为WCP-200钨(W)化学机械抛光(pCMP)清洗剂的CIP,也可用于钼(Mo)应用
    • 中性pH平台(FCN300C)、碱性pH平台(FCN3003C)、酸性pH平台(FCN3004C)
    • 低钨腐蚀速率(W SER)
    • 对氧化钨(WOx)/钨(W)具更高选择性
    • 改进的颗粒和有机残留物去除能力
    • 增强了先进工艺节点中微小颗粒的清洁能力
    • 作为抛光垫缓冲化学品和pCMP二合一应用的出色选择
  • CCN9002C
    • 设计为先进的铜(Cu)化学机械抛光(pCMP)清洗剂
    • 碱性pH平台
    • 低铜和钴(Co)腐蚀速率
    • 适用于钌(Ru)应用
    • 良好的颗粒和有机残留物清洁能力
    • 设计用于抛光垫缓冲化学品和pCMP配套使用
  • CCN9005C ​​
    • 设计为先进的铜(Cu)化学机械抛光(pCMP)清洗剂
    • 碱性pH平台
    • 低铜和钴(Co)腐蚀速率
    • 适用于钌(Ru)应用
    • 良好的颗粒和有机残留物清洁能力
    • 设计用于抛光垫缓冲化学品和pCMP配套使用